Poroskop to urządzenie do badania szczelności powłoki. Jest to bardzo ważny test, który sprawdza najważniejszy parametr determinujący efekt barierowy ochrony powłokowej. W praktyce rozróżniamy:
- test niskonapięciowy,
- test wysokonapięciowy.
Wykonując badanie możemy zlokalizować pory, pęknięcia oraz wtrącenia w powłoce. Minimalizacja defektów przekłada się na dobrą jakość pokrycia, co zapewnia sprawną ochronę powłokową.
Parę słów o możliwych do wykrycia niedoskonałościach:
- pory, to nieciągłości w powłoce o przekroju najczęściej okrągłym, które mogą sięgać do podłoża,
- pęknięcia, to szczeliny w powłoce sięgające w głąb,
- wtrącenia, to zanieczyszczenie powłoki ciałami obcymi np. ziarnami piachu, pyłem, kurzem lub ścierniwem.
Idea badania polega na zestawieniu obwodu elektrycznego, w którym płynie prąd rzędu 0,1 – 1 mA. Metoda nazywana jest niskonapięciową, bo generator wytwarza napięcie elektryczne w przedziale od 5 V do 90 V. Badanie ma zastosowanie dla powłok o grubość powłoki nieprzekraczającej 500 µm.
Przed rozpoczęciem kontroli szczelności, grubość warstwy musi być znana, aby dobrać odpowiednie napięcie kontrolne. Napięcie dobieramy zgodnie z tabelą zamieszczoną w normie ISO 8289 lub ASTM D 5162 – 15. W praktyce napięcie testowe określane jest w specyfikacji, lub uzgadniane między stronami.
Badanie polega na przesuwaniu głowicy – gąbki nasączonej elektrolitem po powierzchni badanej powłoki. Jako elektrolit stosujemy najczęściej wodę. Warto dodać do niej odrobinę mydła, aby zmniejszyć napięcie powierzchniowe, co ułatwia dotarcie do nieciągłości w powłoce.
Przekroczenie napięcia kontrolnego oznacza zlokalizowanie wady i sygnalizowane jest sygnałem dźwiękowym i/lub optycznym.
Badanie jest zasadne dla nowych powłok aplikowanych na przewodzące podłoże. Powłoka musi być całkowicie utwardzona i nie może przewodzić elektryczności. Badana powierzchnia musi być czysta, sucha i bez wszelkich zanieczyszczeń.
Poroskop niskonapięciowy wykrywa tylko nieciągłości sięgające podłoża. Nie jest w stanie wykryć pęcherza powietrza w powłoce lub wady pokrycia typu struktura gąbczasta. Na tym polega różnica między poroskopem nisko- i wysokonapięciowym. Odrębne również są stosowane napięcia, które determinuje grubość powłoki.
